Xem trước tài liệu

Đang tải tài liệu...

Thông tin chi tiết tài liệu

Định dạng: PDF
Số trang: 27 trang
Dung lượng: 502 KB

Giới thiệu nội dung

Nghiên cứu phương pháp và xây dựng mô hình thiết bị đo cấu trúc hình học ba chiều bề mặt tế vi của chi tiết quang cơ theo nguyên lý giao thoa ánh sáng trắng

Tác giả: PHAN NGUYÊN NHUỆ

Lĩnh vực: Kỹ thuật cơ khí

Nội dung tài liệu:

Luận án tập trung nghiên cứu phương pháp và xây dựng mô hình thiết bị đo cấu trúc hình học ba chiều (3D) của bề mặt tế vi trên các chi tiết quang cơ. Phương pháp này dựa trên nguyên lý giao thoa ánh sáng trắng (WLI), một kỹ thuật không tiếp xúc cho phép đánh giá chất lượng bề mặt với độ chính xác cao. Nghiên cứu bao gồm việc tổng quan các kỹ thuật đo cấu trúc bề mặt hiện có, phân tích ưu nhược điểm, từ đó lựa chọn WLI làm phương pháp chính để phát triển thiết bị. Luận án trình bày chi tiết về nguyên lý hoạt động của WLI, các thành phần cấu tạo, quy trình xây dựng mô hình thiết bị trong phòng thí nghiệm, các thuật toán xử lý tín hiệu và phương pháp hiệu chuẩn. Mục tiêu là xây dựng được một mô hình thiết bị WLI có khả năng đo cấu trúc hình học 3D bề mặt tế vi của chi tiết quang cơ với độ chính xác cao, đáp ứng nhu cầu đánh giá chất lượng sản phẩm trong sản xuất và nghiên cứu khoa học.

Mục lục chi tiết:

  • A. GIỚI THIỆU LUẬN ÁN
    • 1. Tính cấp thiết của đề tài luận án
    • 2. Mục đích và nhiệm vụ nghiên cứu của luận án
    • 3. Đối tượng nghiên cứu của luận án
    • 4. Phạm vi nghiên cứu
    • 5. Phương pháp nghiên cứu
    • 6. Cấu trúc của luận án
  • B. NỘI DUNG CHÍNH CỦA LUẬN ÁN
    • Chương 1: Đo cấu trúc hình học bề mặt, những tiến bộ và tồn tại
      • 1.1. Tổng quan về đo cấu trúc hình học bề mặt
      • 1.2. Sự phát triển thiết bị đo lường cấu trúc bề mặt
      • 1.3. Cấu trúc hình học bề mặt
      • 1.4. Các kỹ thuật và thiết bị đo lường cấu trúc hình học bề mặt
        • 1.4.1. Kỹ thuật đo cấu trúc hình học bề mặt bằng phương pháp tiếp xúc
        • 1.4.2. Kỹ thuật đo cấu trúc hình học bề mặt bằng phương pháp không tiếp xúc
        • 1.4.3. So sánh các loại thiết bị đo cấu trúc hình học bề mặt
      • 1.5. Kết luận chương 1
    • Chương 2: Đo cấu trúc hình học ba chiều bề mặt bằng giao thoa ánh sáng trắng – cơ sở lý thuyết và kỹ thuật xử lý
      • 2.1. Giới thiệu chung về WLI
      • 2.2. Nguyên lý hoạt động của WLI
      • 2.3. Nguyên lý tạo tín hiệu giao thoa
      • 2.4. Hình ảnh WLI
      • 2.5. Xử lý tín hiệu WLI
        • 2.5.1. Phương pháp xác định đường bao tín hiệu
        • 2.5.2. Phương pháp trọng tâm
        • 2.5.3. Phương pháp ước lượng pha
        • 2.5.4. Phương pháp kết hợp kỹ thuật ước lượng pha và kỹ thuật xác định đường bao biến điệu
        • 2.5.5. Phân tích trong miền tần số
      • 2.6. Một số vấn đề trong kỹ thuật đo kiểm bằng WLI
        • 2.6.1. Sai số thứ tự vân giao thoa
        • 2.6.2. Ảnh hưởng của vật liệu mẫu đo đến WLI
        • 2.6.3. Tăng độ phân giải của WLI
        • 2.6.4. Vấn đề nguồn sáng trong WLI
      • 2.7. Kết luận chương 2
    • Chương 3: Xây dựng mô hình thiết bị đo cấu trúc hình học ba chiều bề mặt bằng giao thoa ánh sáng trắng
      • 3.1. Các thành phần và hoạt động của mô hình hệ thống WLI
        • 3.1.1. Hệ quang học tạo ảnh và chiếu sáng
        • 3.1.2. Hệ dịch chuyển và điều khiển dịch chuyển
        • 3.1.3. Phần mềm điều khiển và xử lý dữ liệu
        • 3.1.4. Mô hình thiết bị thực nghiệm
      • 3.2. Mô phỏng hoạt động của thiết bị
        • 3.2.1. Mô phỏng sự hình thành hình ảnh vân WLI
        • 3.2.2. Tái tạo cấu trúc hình học 3D bề mặt mô phỏng
      • 3.3. Hiệu chuẩn mô hình thiết bị
        • 3.3.1. Hiệu chuẩn kích thước ngang
        • 3.3.2. Hiệu chuẩn dịch chuyển dọc trục