Xem trước tài liệu

Đang tải tài liệu...

Thông tin chi tiết tài liệu

Định dạng: PDF
Số trang: 76 trang
Dung lượng: 915 KB

Giới thiệu nội dung

Nghiên cứu khảo sát các đặc trưng định liều bức xạ photon đối với vật liệu nhiệt phát quang K2GdF5:Tb.

Tác giả: Đoàn Thị Ngọc Nở

Lĩnh vực: Vật lý nguyên tử và hạt nhân

Nội dung tài liệu:

Luận văn này tập trung nghiên cứu các đặc trưng định liều bức xạ photon của vật liệu nhiệt phát quang K2GdF5:Tb dạng bột. Nghiên cứu bao gồm việc khảo sát độ lặp lại về liều, ngưỡng liều cực tiểu, dải đáp ứng liều tuyến tính, sự phụ thuộc của liều bức xạ vào năng lượng photon, độ tự chiếu xạ theo thời gian khi lưu trữ, và sự giảm tín hiệu theo thời gian (fading). Các phương pháp thực nghiệm được trình bày chi tiết, bao gồm thiết bị sử dụng và quy trình chiếu xạ mẫu. Kết quả nghiên cứu được phân tích và thảo luận, cung cấp cái nhìn sâu sắc về tiềm năng ứng dụng của vật liệu này trong lĩnh vực định liều bức xạ.

Mục lục chi tiết:

  • Lời cam đoan
  • Lời cảm ơn
  • Mục lục
  • Danh mục các ký hiệu, chữ viết tắt
  • Danh mục các bảng biểu
  • Danh mục các hình vẽ, đồ thị
  • Mở đầu
  • Chương 1. Tổng quan
    • 1.1. Lý thuyết nhiệt phát quang
      • 1.1.1. Hiện tượng nhiệt phát quang
      • 1.1.2. Cơ chế nhiệt phát quang
      • 1.1.3. Vật liệu nhiệt phát quang
    • 1.2. Tình hình nghiên cứu
      • 1.2.1. Tình hình nghiên cứu ở thế giới
      • 1.2.2. Tình hình nghiên cứu ở Việt Nam
    • 1.3. Một số đặc trưng định liều của vật liệu
      • 1.3.1. Độ lặp lại
      • 1.3.2. Ngưỡng liều cực tiểu
      • 1.3.3. Dải đáp ứng liều tuyến tính
      • 1.3.4. Độ tự chiếu xạ theo thời gian khi lưu trữ vật liệu
      • 1.3.5. Sự suy giảm tín hiệu TL theo thời gian (fading)
      • 1.3.6. Tiêu chuẩn đánh giá các đặc trưng của liều kế
    • 1.4. Một số đại lượng và đơn vị dùng trong định liều
      • 1.4.1. Liều hấp thụ D
      • 1.4.2. Liều tương đương
      • 1.4.3. Liều hiệu dụng
      • 1.4.4. Tương đương liều cá nhân
  • Chương 2. Phương pháp thực nghiệm
    • 2.1. Vật liệu và trang thiết bị
      • 2.1.1. Vật liệu
      • 2.1.2. Hệ chiếu chuẩn tia X
      • 2.1.3. Hệ chiếu chuẩn gamma Cs-137
      • 2.1.4. Hệ chiếu chuẩn gamma Co-60
      • 2.1.5. Hệ đọc tín hiệu nhiệt phát quang Rexon UL-320
      • 2.1.6. Cân điện tử
      • 2.1.7. Lò nung
    • 2.2. Chiếu xạ và khảo sát các đặc trưng của vật liệu
      • 2.2.1. Bố trí thí nghiệm chiếu xạ mẫu vật liệu
      • 2.2.2. Chuẩn bị mẫu vật liệu
      • 2.2.3. Chiếu mẫu vật liệu
        • 2.2.3.1. Chiếu mẫu bằng hệ chiếu chuẩn tia-X
        • 2.2.3.2. Chiếu mẫu bằng hệ chiếu chuẩn Cs-137
        • 2.2.3.3. Chiếu mẫu bằng hệ chiếu chuẩn Co-60
    • 2.3.4. Khảo sát đáp ứng TL trên máy đọc liều Rexon UL-320
      • 2.3.4.1. Bố trí thí nghiệm
      • 2.3.4.2. Đo cường độ tín hiệu TL
      • 2.3.4.3. Khảo sát đáp ứng các đường cong TL trên máy đọc liều
    • 2.3.5. Khảo sát các đặc trưng của vật liệu
      • 2.3.5.1. Độ lặp lại về liều bức xạ
      • 2.3.5.2. Ngưỡng liều cực tiểu
      • 2.3.5.3. Dải liều tuyến tính
      • 2.3.5.4. Sự phụ thuộc của liều bức xạ vào năng lượng photon
      • 2.3.5.5. Độ tự chiếu xạ theo thời gian khi lưu trữ vật liệu
      • 2.3.5.6. Sự giảm tín hiệu TL theo thời gian (fading)
  • Chương 3. Kết quả và thảo luận
    • 3.1. Độ lặp lại về liều
      • 3.1.1. Bức xạ tia-X
      • 3.1.2. Bức xạ gamma (nguồn Co-60)
    • 3.2. Ngưỡng liều cực tiểu
    • 3.3 Dải đáp ứng liều tuyến tính
      • 3.3.1. Bức xạ tia-X
      • 3.3.2. Bức xạ gamma
    • 3.4. Sự phụ thuộc của liều bức xạ vào năng lượng photon
    • 3.5. Độ tự chiếu xạ theo thời gian khi lưu trữ vật liệu
    • 3.6. Sự giảm tín hiệu TL theo thời gian (FADING)
      • 3.6.1. Bức xạ tia-X
      • 3.6.2. Bức xạ gamma
  • Kết luận và kiến nghị
    • 1. Kết luận
      • 1.1. Về lý thuyết
      • 1.2. Về thực nghiệm
    • 2. Kiến nghị
  • Tài liệu tham khảo
  • Danh mục công trình của tác giả
  • Phụ lục 1
  • Phụ lục 2
  • Phụ lục 3
  • Phụ lục 4