Khóa luận tốt nghiệp: Nghiên cứu sự phụ thuộc của hệ số trùng phùng vào bề dày và mật độ mẫu phân tích

Nghiên cứu sự phụ thuộc của hệ số trùng phùng vào bề dày và mật độ mẫu phân tích

Tác giả: Hà Thị Kim Ngân

Lĩnh vực: Sư phạm Vật lý

Nội dung tài liệu:

Khóa luận này tập trung nghiên cứu sự phụ thuộc của hệ số trùng phùng vào bề dày và mật độ của mẫu phân tích. Nghiên cứu sử dụng hệ phổ kế gamma với đầu dò bán dẫn siêu tinh khiết (HPGe) để đo đạc và phân tích mẫu. Để xác định hoạt độ của các đồng vị phóng xạ trong mẫu, việc hiệu chuẩn hệ phổ kế gamma bằng cách tính toán chính xác hiệu suất đỉnh năng lượng toàn phần là rất quan trọng. Tuy nhiên, hiệu suất đỉnh đo được thường sai lệch so với giá trị thực tế do ảnh hưởng của hiệu ứng trùng phùng. Khóa luận này sẽ sử dụng chương trình mô phỏng MCNP-CP để nghiên cứu sự phụ thuộc của hệ số trùng phùng vào bề dày và mật độ mẫu phân tích, sử dụng mẫu chuẩn RGU do IAEA cung cấp.

Mục lục chi tiết:

• Lời cảm ơn
• Danh mục các chữ viết tắt
• Danh mục các bảng biểu
• Danh mục các hình vẽ và đồ thị
• Mục lục
• Mở đầu
• Chương 1: Tổng quan
• 1.1. Tình hình nghiên cứu
• 1.1.1. Tình hình nghiên cứu trên thế giới
• 1.1.2. Tình hình nghiên cứu tại Việt Nam
• 1.1.3. Mục tiêu và nội dung nghiên cứu
• 1.2. Cơ sở lý thuyết
• 1.2.1. Hiệu suất đỉnh năng lượng toàn phần
• 1.2.2. Hiệu chỉnh trùng phùng bằng chương trình MCNP-CP
• 1.3. Nhận xét chương 1
• Chương 2: Đối tượng và phương pháp nghiên cứu
• 2.1. Hệ phổ kế gamma sử dụng đầu dò HPGe
• 2.1.1. Đầu dò Germanium siêu tinh khiết
• 2.1.2. Buồng chì
• 2.1.3. Mẫu chuẩn
• 2.1.4. Hệ phổ kế gamma sử dụng đầu dò HPGe trong mô phỏng
• 2.2. Đánh giá hệ số trùng phùng
• 2.3. Kết luận chương 2
• Chương 3: Kết quả và thảo luận
• 3.1. Hiệu suất đỉnh thực nghiệm
• 3.2. Hệ số trùng phùng theo bề dày mẫu
• 3.3. Hệ số trùng phùng theo mật độ mẫu
• 3.4. Nhận xét chương 3
• Kết luận
• Kiến nghị
• Tài liệu tham khảo
• Phụ lục