Xem trước tài liệu

Đang tải tài liệu...

Thông tin chi tiết tài liệu

Định dạng: PDF
Số trang: 34 trang
Dung lượng: 4 MB

Giới thiệu nội dung

Kính Hiển Vi Lực Nguyên Tử (Atomic Force Microscope)

Tác giả: HOÀNG VĂN, VÕ THỊ NGỌC T, LÊ NGUYỄN BẢO

Lĩnh vực: Vật lý ứng dụng

Nội dung tài liệu:

Tài liệu này giới thiệu về Kính hiển vi lực nguyên tử (AFM), một thiết bị quan sát cấu trúc vi mô bề mặt vật rắn dựa trên nguyên tắc xác định lực tương tác nguyên tử giữa đầu mũi dò nhọn và bề mặt mẫu. AFM có khả năng quan sát ở độ phân giải nanômét. Tài liệu trình bày lịch sử phát triển của AFM, bắt đầu từ việc được sáng chế bởi Gerd Binnig và Christoph vào năm 1986, phát triển từ kính hiển vi quét chui hầm năm 1982. Các thành phần cấu tạo chính của AFM cũng được mô tả chi tiết, bao gồm mũi nhọn, cần quét (cantilever), nguồn Laser, gương phản xạ, nửa tấm pin quang điện (photodiode) và bộ quét áp điện. Nguyên lý hoạt động của AFM dựa trên việc ghi lại sự rung động của cần quét khi mũi dò tiếp xúc hoặc ở gần bề mặt mẫu, sự rung động này được đo bằng tia laser và detector, từ đó tái tạo hình ảnh cấu trúc bề mặt.

Mục lục chi tiết:

  • 1. Lịch sử phát triển
  • 2. Chức năng của máy AFM
  • 3. Cấu tạo của AFM
    • 3.1. Mũi nhọn
    • 3.2. Cantilever (cần quét)
    • 3.3. Nguồn laser
    • 3.4. Miroir (phản xạ gương)
    • 3.5. Hai nửa tấm pin quang điện (photodiode)
    • 3.6. Bộ quét áp điện
  • 4. Nguyên lý của AFM